KT65DL 多功能測(cè)試儀
KT65DL 多功能測(cè)試儀具備測(cè)試民用、商用及工業(yè)用電設(shè)施的功能配置，在可靠性、重復(fù)性與耐用性方面享有良好口碑。
Kewtech（科維奇）旗下產(chǎn)品的回路電路均經(jīng)過(guò)精心設(shè)計(jì)，可有效抗干擾、避免剩余電流裝置（RCD）誤動(dòng)作并消除接觸電阻影響，KT65DL 也不例外。該測(cè)試儀在大電流模式下還具備 0.001 歐姆的分辨率，并提供包含 80% 規(guī)則在內(nèi)的最大接地阻抗（Zs）對(duì)照表。
進(jìn)行便攜式電器測(cè)試（PAT）時(shí)，請(qǐng)搭配使用 PAT ADAPTER1（PAT 適配器 1）；進(jìn)行接地電阻測(cè)試時(shí)，請(qǐng)搭配使用 ACCES KIT（接地測(cè)試套件）。
核心優(yōu)勢(shì)
操作界面簡(jiǎn)潔直觀，易于使用
與其他品牌對(duì)比測(cè)試時(shí)，回路性能精度表現(xiàn)最佳
配備 0.001 歐姆分辨率的大電流回路測(cè)試功能，適用于靠近供電變壓器的場(chǎng)景
剩余電流裝置（RCD）自動(dòng)測(cè)試，所有結(jié)果在同一屏幕顯示
可選擇用于微型斷路器（MCB）和熔斷器的最大接地阻抗（Zs）對(duì)照表，便于在現(xiàn)場(chǎng)自動(dòng)將測(cè)量結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)值對(duì)比
無(wú) “跳閘沖擊"—— 持續(xù)帶電監(jiān)測(cè)功能可避免熔斷器熔斷或印刷電路板（PCB）損壞
先進(jìn)的存儲(chǔ)功能：可將測(cè)量數(shù)據(jù)與測(cè)試地點(diǎn)、配電盤(pán)、回路編號(hào)及測(cè)試類(lèi)型相關(guān)聯(lián)（例如，標(biāo)記該回路測(cè)試為 Ze 測(cè)試或 Zs 測(cè)試）
防跳閘技術(shù)：可對(duì)所有類(lèi)型的剩余電流裝置（RCD）進(jìn)行全防跳閘回路測(cè)試，且受剩余電流裝置誤動(dòng)作和噪聲干擾的可能性極低
持續(xù)帶電電壓檢測(cè)功能：在斷電測(cè)試時(shí)提供保護(hù)
測(cè)試探頭配備遠(yuǎn)程測(cè)試按鈕及鎖定測(cè)試按鈕，支持 “免手持" 測(cè)試
KT65DL / KT66DL—— 市面上 配備內(nèi)置保護(hù)蓋的多功能測(cè)試儀（MFT），可保護(hù)屏幕免受損壞及水、灰塵侵入
隨附出廠校準(zhǔn)證書(shū)
包裝含軟質(zhì)便攜箱、電源線、配電盤(pán)測(cè)試線、遠(yuǎn)程測(cè)試探頭及配套軟件
主要功能
通斷測(cè)試：蜂鳴器可切換，支持自動(dòng)調(diào)零
絕緣測(cè)試：支持 250V、500V、1000V 測(cè)試電壓，配備電壓警示 LED 燈，支持自動(dòng)放電
回路測(cè)試：ATT（小電流）模式、大電流模式（分辨率分別為 0.01 歐姆和 0.001 歐姆）
相間回路測(cè)試及 55V 回路測(cè)試（適用于 CTE 變壓器）
功率因數(shù)校正（PFC）與短路功率（PSC）測(cè)量便捷，無(wú)需更換測(cè)試探頭
剩余電流裝置（RCD）測(cè)試：支持 AC 型、A 型、ACS 型、AS 型剩余電流裝置，支持自動(dòng)測(cè)試及 10mA、30mA、100mA、300mA、500mA 電流下的斜坡測(cè)試
剩余電流裝置（RCD）測(cè)試自動(dòng)存儲(chǔ)功能：所有結(jié)果在同一屏幕顯示，無(wú)需滾動(dòng)查看
相序測(cè)試
接地電阻測(cè)試功能（需搭配可選配件 ACCESKIT 接地釘套件）
測(cè)試線電阻補(bǔ)償存儲(chǔ)功能
便攜式電器測(cè)試（PAT）功能，支持?jǐn)?shù)據(jù)下載
極性檢測(cè)
先進(jìn)存儲(chǔ)功能，配備免費(fèi)配套軟件Kewtech KT65DL、Kewtech KT66DL、Kewtech KT64DL、Kewtech KT63+、Kewtech KT63DL、Kewtech KT66EVA、Kewtech KT66EV、Kewtech KT66ET